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            產(chǎn)品展示
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            智能數(shù)字化涂鍍層測厚儀minitest740

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            涂鍍層測厚儀minitest740探頭內(nèi)置外置可換,讓用戶使用更加靈活,涂鍍層測厚儀minitest740更換不同探頭既可測小工件,薄涂層,也可測厚涂層,zui大測量到15mm

            MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測厚儀MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測厚儀MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測厚儀MiniTest722/MiniTest735/MiniTest745涂層測厚儀


            涂鍍層測厚儀minitest740-優(yōu)點:
            -SIDSP使測量不受干擾,測值更加準(zhǔn)確
            -FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
            -溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
            -生產(chǎn)過程中50點校準(zhǔn)使儀器獲得高準(zhǔn)確度的特征曲線
            -大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
            -讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
            -超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
            -菜單指引操作,25種語言可選
            -帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
            -可下載更新軟件

             

             

            SIDSP技術(shù)-*新技術(shù),智能數(shù)字化的涂層測厚探頭 
            模擬信號處理時代已成過去,數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢

            MiniTest 720/730/740涂層測厚儀采用的SIDSP是什么?
            SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發(fā)的,世界**的涂層測厚探頭技術(shù)。EPK此項技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的**奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理,這項技術(shù)使探頭在測量時,同時在探頭內(nèi)部將信號*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界**技術(shù)生產(chǎn)。

            MiniTest 720/730/740涂層測厚儀的SIDSP工作原理?
            跟傳統(tǒng)技術(shù)不同,SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號,回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理,帶給您準(zhǔn)確的涂層厚度值。此項的數(shù)字處理技術(shù),同時應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)(手機網(wǎng)絡(luò))方面,如數(shù)字濾波器,基帶轉(zhuǎn)換,平均值,隨機分析,等等。此項技術(shù)能獲得與模擬信號處理*的信號質(zhì)量和準(zhǔn)確度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
            SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優(yōu)勢,為涂層測厚設(shè)定了一個新的標(biāo)準(zhǔn)。

            主機技術(shù)參數(shù)

            主機型號

            MINITEST 720

            MINITEST 730

            MINITEST 740

            探頭類型

            內(nèi)置

            外置

            內(nèi)置外置可換

            數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

            10

            10

            100

            存儲數(shù)據(jù)量

            *多10,000個

            *多10,000個

            *多100,000個

            統(tǒng)計值

            讀值個數(shù)、*小值、*大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)

            校準(zhǔn)程序符合際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范

            ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)

            校準(zhǔn)模式

            出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點校準(zhǔn)、兩點校準(zhǔn)、三點校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補償值

            限值監(jiān)控

            聲、光報警提示超過限

            測量單位

            μm,mm,cm;mils,inch,thou

            操作溫度

            -10℃~60℃

            存放溫度

            -20℃~70℃

            數(shù)據(jù)接口

            IrDA 1.0(紅外接口)

            電源

            2節(jié)AA電池

            標(biāo)準(zhǔn)

            DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
            ASTM B244,B499,D7091,E376
            AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

            體積

            157mm x 75.5mm x 49mm

            重量

            約175g

            約210g

            約175g(內(nèi)置)/230g(外置)


            探頭

            探頭特性

            F1.5,N07,F(xiàn)N1.5

            F2

            F5,N2.5,F(xiàn)N5

            F15

            F

            N

            F

            F

            N

            F

            測量范圍

            0~1.5mm

            0~0.7mm

            0~2mm

            0~5mm

            0~2.5mm

            0~15mm

            使用范圍

            小工件,薄涂層

            粗糙表面

            標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛

            厚涂層

            測量原理

            磁感應(yīng)

            電渦流

            磁感應(yīng)

            磁感應(yīng)

            電渦流

            磁感應(yīng)

            信號處理

            探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP)

            較準(zhǔn)確度

            ±(1μm+0.75%讀值)

            ±(1.5μm+0.75%讀值)

            ±(5μm+0.75%讀值)

            重復(fù)性

            ±(0.5μm+0.5%讀值)

            ±(0.8μm+0.5%讀值)

            ±(2.5μm+0.5%讀值)

            低端分辨率

            0.05μm

            0.1μm

            1μm

            *小曲率半徑(凸)

            1.0mm

            1.5mm

            5mm

            *小曲率半徑
            (凹,外置探頭)

            7.5mm

            10mm

            25mm

            *小曲率半徑
            (凹,內(nèi)置探頭)

            30mm

            30mm

            30mm

            *小測量面積

            Φ5mm

            Φ10mm

            Φ25mm

            *小基體厚度

            0.3mm

            40μm

            0.5mm

            0.5mm

            40μm

            1mm

            連續(xù)模式下測量速度

            每秒20個讀數(shù)

            單值模式下*大測量速度

            每分鐘70個讀數(shù)

             

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