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            服務(wù)熱線:86-021-58951091
            手機(jī)號(hào)碼:17321352692
            地 址:上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號(hào)5號(hào)樓311室
            產(chǎn)品展示
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            Qnix 4500測(cè)厚儀說(shuō)明書

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            QNix 4500測(cè)厚儀說(shuō)明書

             

            Qnix 4500測(cè)厚儀 

            產(chǎn)品特點(diǎn):

            一、適用于測(cè)量鐵磁性/非磁性基體上油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料如塘瓷、鋅、鉻、鉛等。

            二、4500涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn):        

            只需調(diào)零,無(wú)需校準(zhǔn) 體積小巧,操作方便  一機(jī)雙用,自動(dòng)識(shí)別基體  精度高  價(jià)格便宜 

            三、QNix4500涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):   

            磁性基體(Fe模式) QNix4200/4500均有此功能

            非磁性基體(NFe模式) QNix4500有此功能

            測(cè)量范圍Fe:0-3000um/NFe:0-2000um

            顯示精度:0.1um

            精度:0-50um:≤±1um  50-1000um:≤±1.5%讀數(shù) 1000-3000um≤±3%讀數(shù)         

            zui小接觸面:10×10mm         

            zui小曲率半徑:凸面:3mm   凹面:25mm         

            zui小基體厚度:Fe:0.2mm/NFe:0.05mm         

            溫度補(bǔ)償范圍:0-60℃         

            顯示:LCD液晶(帶背光)         

            探頭:紅寶石固定式        

            電源:2×1.5V干電池

            重量:105g

             


            QuaNix 4500測(cè)厚儀特點(diǎn):

            1.只需調(diào)零、無(wú)需校準(zhǔn) 
            2.Fe/NFe兩用探頭 
            3.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測(cè)厚儀一體化設(shè)計(jì) 
            4.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測(cè)厚儀自動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī) 

            QuaNix 4200/4500 涂鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

            型 號(hào)

            4200

            4500

            120015007500keyless
            基 體FeFe/NFeFeFe/NFeFe、NFe、Fe/NFe

            Fe/NFe

            探頭形式一體一體、分體

            無(wú)線分體

            顯 示LCD數(shù)字顯示
            測(cè)量范圍0-3000μmFe:0-3000μm

            NFe:0-2000μm

            0-2000μm0-5000μm0-2000μm

            0-5000μm

            0-5000μm
            測(cè)量精度0-50μm:≤±1μm,50-1000μm:≤±1.5%,1000-2000μm:≤±2%,

            2000-5000μm≤±3%

            顯示精度0.1μm0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm
            工作溫度-10 - +60℃
            溫度補(bǔ)償0-50℃
            存 儲(chǔ)1500M型7500M型

            keylessM型

             3900個(gè)測(cè)量值,999個(gè)數(shù)據(jù)組
            數(shù)據(jù)傳輸RS232打印、電腦
            統(tǒng)計(jì)功能平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差
            超限報(bào)警

            上下限

            zui小基體10mm×10mm
            zui小曲率凸、凹半徑:3mm/25mm凸半徑:5mm,凹半徑:25mm
            zui薄基體Fe:0.2mm,NFe:0.05mm
            電 源5號(hào)電池2節(jié)9V堿性電池1節(jié)

            5號(hào)電池2節(jié)

            重 量110g130g150g

            130g

            尺 寸110×60×27mm166×64×34mm110×60×24mm110×62×22mm
             

             

            QNix 4500測(cè)厚儀說(shuō)明書

            儀器使用:

            1.開(kāi)機(jī): 裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測(cè)物體表面并壓實(shí),儀器將自動(dòng)開(kāi)機(jī)。(使用時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面并壓實(shí),禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動(dòng)探頭,以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測(cè)量后將儀器拿起,離開(kāi)被測(cè)物 10cm 以上,再進(jìn)行下次測(cè)量。)
            2.設(shè)置: 開(kāi)機(jī)后按紅色按鍵進(jìn)入菜單,QNix4500 為 4 個(gè)選項(xiàng),QNix4200 為 2 個(gè)選 項(xiàng),
            “Fe”為磁性金屬基體模式, “NFe”為非磁性金屬基體模式(僅 QNix4500), “Fe/NFe”為自動(dòng)識(shí)別基體模式(僅 QNix4500), “取平均值”為儀器自動(dòng)顯示 zui后三次讀數(shù)的平均值(包括本次測(cè)量)。按紅鍵進(jìn)入菜單后,繼續(xù)按紅鍵進(jìn)行選擇,將光標(biāo)在選項(xiàng)上停留 2 秒后,進(jìn) 入所選項(xiàng)目。如在“Fe”選項(xiàng)上停留 2 秒后,儀器顯示Fe 測(cè)量模式,這時(shí)儀器進(jìn)入 Fe(磁性金屬基體)模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe(非 磁性金屬基體)、Fe/NFe(磁性非磁性基體自動(dòng)識(shí)別)模式下工作。
            進(jìn)入“取平均值”選項(xiàng)后,儀器顯示取平均值,在“開(kāi)”選項(xiàng)上停留 2 秒后,取平均值開(kāi)啟,測(cè)量時(shí)顯示數(shù)據(jù)為zui后三次讀數(shù)的平均值(包括本次測(cè)量),測(cè)量時(shí)在屏幕右上角出現(xiàn)“— X ”符號(hào)時(shí)表示取平均值開(kāi)啟,如不需要請(qǐng)關(guān)閉(在取平均值選項(xiàng)里選擇“關(guān)”)即可。

            3.測(cè)量:

            (1)調(diào)零:

            儀器在測(cè)量前,應(yīng)在基體上取零位作基準(zhǔn)。建議用未噴涂的同一種工件表面 調(diào)零,因?yàn)椴牧现g導(dǎo)磁性和導(dǎo)電性不同,會(huì)造成一定誤差。 選擇相應(yīng) Fe 或 NFe 模式后,將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上,不要抬起,按一下儀器上的紅鍵松開(kāi),儀器依次顯示“零位參照、放置探頭”、 “零位參照,拿起探頭”或聽(tīng)到儀器響聲后,拿起儀器,出現(xiàn)一組數(shù)據(jù)或聽(tīng)到響 聲后,液晶顯示 0,調(diào)零完畢。

            注意:由于工件表面粗糙度等原因,調(diào)零后,再測(cè)時(shí)不一定是的零位, 這是正?,F(xiàn)象。
            (2)測(cè)量:

            將儀器探頭垂直接觸被測(cè)物的表面,儀器將自動(dòng)測(cè)出并顯示數(shù)據(jù)。(建議用 拇指和食指拿住儀器凹槽處使用,分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用)

            注意:測(cè)量時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面、并壓實(shí),每測(cè)量一次后將 儀器拿起,離開(kāi)被測(cè)物 10 ㎝以上,再進(jìn)行下一點(diǎn)測(cè)量。

             

             

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