根據(jù)庫侖電解法同時測量涂層厚度和電位差：

1、Fischer菲希爾Couloscope CMS測厚儀( 庫侖測量系統(tǒng))使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一一個大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進行或不需要進行非破壞性測試方法的場合。

2、Fischer菲希爾Couloscope CMS測厚儀準確地測量范圍在0.05- 40 μm ( 0.002 - 1.6 mils )之間的金屬鍍層。該設備可以存儲上百條預先定義好的鍍層/基材應用,從單鍍層,例如鋅在鋼上,直至三鍍層,例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。

3、Couloscope CMS STEP用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學電位差。在電鍍工業(yè)中,對多層鎳的測量變得越來越重要了,雙層鎳的測量已成為-種標準的操作。