LUPHOScan HD 輪廓儀核心特點

1. 測量原理

基于 多波長干涉技術(shù)（MWLI®）

非接觸式干涉掃描，適用于高精度表面形貌重建

2. 適用對象

旋轉(zhuǎn)對稱表面，包括：

非球面（aspheres）

球面（spheres）

平面（flats）

自由曲面（freeforms，需具備旋轉(zhuǎn)對稱性）

特別適合 手機鏡頭模具、大口徑光學(xué)元件、陡峭曲面 等挑戰(zhàn)性工件

3. 技術(shù)優(yōu)勢

超高坡度容忍度：可測量 高達90°的表面坡度，適用于極陡或深凹結(jié)構(gòu)

材料普適性：支持 透明、鏡面、不透明、拋光或研磨表面，無需特殊涂層

性能指標

高速測量：大幅縮短檢測周期，提升產(chǎn)線效率

極低系統(tǒng)噪聲：確保亞納米級測量穩(wěn)定性

重復(fù)性：Power（低頻誤差）與 PV（峰谷值）參數(shù)高度穩(wěn)定，適合工藝控制與質(zhì)量追溯

環(huán)境魯棒性：系統(tǒng)結(jié)構(gòu)堅固，對溫度波動、振動等環(huán)境干擾不敏感

典型應(yīng)用場景

光學(xué)鏡頭（尤其是手機、車載、AR/VR 鏡頭）模具檢測

大口徑天文鏡、激光系統(tǒng)非球面鏡制造

精密光學(xué)元件研發(fā)與量產(chǎn)質(zhì)量控制

自由曲面光學(xué)（如照明、投影系統(tǒng)）的原型驗證