COULOSCOPE CMS2 可精準測定眾多常見的單層和多層鍍層，在質(zhì)量控制環(huán)節(jié)發(fā)揮著關鍵作用。

庫侖法具備顯著的成本效益優(yōu)勢，在可接受破壞性測量的前提下，是 X 射線熒光法的精準替代方案。該方法適用范圍廣泛，可應對豐富多樣的鍍層組合，常用于電鍍鍍層的質(zhì)量把控，以及監(jiān)測印刷電路板上殘余純錫的厚度。

STEP 測試：鍍層厚度與電化學電位的雙重測量

若需在測量鍍層厚度的同時獲取電化學電勢數(shù)據(jù)，COULOSCOPE CMS2 STEP 。其采用的 STEP 測試方法，能夠同步測量多層鎳鍍層的電位差與鍍層厚度，這一特性使其成為測定此類鍍層腐蝕行為的理想工具。

產(chǎn)品特性

高精度測量：運用庫侖法，實現(xiàn)多層金屬鍍層厚度的高精度測量。

標準合規(guī)：依據(jù) DIN EN ISO 2177 標準開展測量工作。

操作便捷：通過彩色顯示屏與圖形化用戶指南，操作直觀易懂。

參數(shù)可調(diào)：可靈活選擇電解速度（0.1 - 50 微米 / 分鐘）和電解面積（0.6 - 3.2mm）。

預設應用豐富：針對不同鍍層系統(tǒng)，如鐵上鍍鋅、黃銅上鍍鎳等，預設近 100 種測量應用。